英文名称 : Terms of microlithography technology for microelectronics

内容简介 : 本文件界定了微电子学微光刻技术有关的微电子光刻技术，先进光刻技术，微光刻图形化和图形数据处理技术，微光刻感光材料、铬板与基板材料，光掩模技术，光刻工艺（曝光、刻蚀与微纳米加工）技术，电子束掩模制造与直写技术，光刻及掩模质量参数测量和评定，掩模制造设备和微光刻设备等术语和定义。 本文件适用于微电子学微光刻技术领域的教学、科研、生产、应用、贸易和技术交流。

英文名称 : Print display—Measuring method of film uniformity

内容简介 : 本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法，主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。 本文件适用于使用探针式表面轮廓仪（以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。

英文名称 : Nanotechnologies—Test methods for the characterization of organic transistors and materials

内容简介 : 本文件描述了一种表征有机晶体管的方法，包括测量技术、数据报告方法和表征过程的测试条件。 本文件适用于有机晶体管的电学特性测量。

英文名称 : Electronic grade ethyl orthosilicate

内容简介 : 本文件规定了半导体行业用电子级正硅酸乙酯的技术要求、检验规则、型式试验、标志、包装、运输及贮存的要求,描述了试验方法、分析方法与测定结果评价。本文件适用于沉积二氧化硅的电子级正硅酸乙酯。

英文名称 : Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 2:Optical properties

内容简介 : 本文件描述了平板显示用彩色光刻胶光学性能中色度、辉度和对比度三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

英文名称 : Determination of silver content in silver paste for solar cells—Thiocyanate standard solution titration method

内容简介 : 本文件描述了用硫氰酸盐标准溶液滴定法测定太阳能电池用银浆中银含量的方法。本文件适用于太阳能电池用银浆，包括符合YS/T 612的正面银浆和背面银浆，测定范围为银含量(质量分数)30%~95%。其他导电银浆(例如微电子技术用贵金属浆料)和制作银浆的原料银粉等材料参照使用。注： 参照使用本文件方法测定银粉的银含量(质量分数)时，测定范围上限为99%。

英文名称 : Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 1:Physical and chemical properties

内容简介 : 本文件描述了平板显示用彩色光刻胶理化性能中固含量、黏度和后烘残膜率三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

英文名称 : Test methods of color photoresist for flat panel display—Part 3:Reliability

内容简介 : 本文件描述了平板显示用彩色光刻胶可靠性中耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能三项指标的测试方法。〓〓注： 平板显示用彩色光刻胶的可靠性指标主要包括耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

英文名称 : Test for stress of flat panel display substrate glass—Point scan method

内容简介 : 本文件给出了点扫描法测定平板显示器基板玻璃应力的试验原理，描述了点扫描法的试验装置、试验条件、试样要求、试验步骤、结果表示、试验报告。本文件适用于厚度为0.3 mm~1.1 mm、规格为11代及以下的平板显示器基板玻璃应力测试，其他玻璃材料参考使用。

英文名称 : Electronic gas—Carbonyl sulfide

内容简介 : 本文件规定了羰基硫的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于一氧化碳与硫为原料合成制备的电子用羰基硫。