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本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法，主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。
本文件适用于使用探针式表面轮廓仪（以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。
标准编号：GB/T 44390-2024
标准名称：打印显示 薄膜均匀性测试方法
英文名称：Print display—Measuring method of film uniformity
标准状态：即将实施
发布日期：2024-08-23
实施日期：2025-03-01
出版语种：中文简体
起草单位：京东方科技集团股份有限公司、奥来德(上海)光电材料科技有限公司、北京鼎材科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、合肥京东方卓印科技有限公司、合肥鼎材科技有限公司、TCL华星光电技术有限公司、江阴润玛电子材料股份有限公司、广东东溢新材料科技有限公司、广东聚华印刷显示技术有限公司、深圳御光新材料有限公司、衢州英特高分子材料有限公司、绍兴旭源新材料科技有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：31.030
中标分类号：L90
代替标准：
被代替标准：
