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英文名称 : Screw thread micrometer
内容简介 : 本文件规定了螺纹千分尺(不包括电子数显螺纹千分尺)的型式与基本参数、要求、检查条件、检验方法、标志与包装。 本文件适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm,测量范围小于或等于300 mm的螺纹千分尺(不包括电子数显螺纹千分尺)的设计、制造和检验。
英文名称 : Odd fluted micrometer
内容简介 : 本文件规定了奇数沟千分尺的型式与基本参数、通则、检验方法、标志与包装。本文件适用于分度值为0.001 mm、0.002 mm、0.01 mm,测量上限不大于100 mm的奇数沟千分尺的设计、制造与检验。
英文名称 : Bore dial indicator
内容简介 : 本文件规定了内径指示表的型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法和标志与包装。本文件适用于分度值或分辨力为0.01 mm、0.001 mm,测量范围为6 mm~1 000 mm的指针和数显读数的内径指示表的设计、制造与检验。
英文名称 : Internal micrometers with two-point contact
内容简介 : 本文件规定了两点内径千分尺(包括接杆式内径千分尺及单杆式内径千分尺)的型式与基本参数﹑通则﹑检验条件、检验方法以及标志与包装。本文件适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm、0.005 mm,测微螺杆螺距为0.5 mm或1.0 mm,测量上限不大于6 000 mm的接杆式内径千分尺及单杆式内径千分尺(不包括电子数显内径千分尺)的设计、制造与检验。
英文名称 : Testing method for nano geometric standard samples
内容简介 : 本文件规定了纳米几何量标准样板测试方法的分类及原理、测试设备、测试环境、测试程序及测试数据处理。本文件适用于线间隔为50 nm~100 nm的纳米线间隔标准样板、线宽为20 nm~100 nm的纳米线宽标准样板、台阶高度为10 nm~100 nm的纳米台阶高度标准样板和薄膜厚度为2 nm~100 nm的纳米膜厚标准样板的测试。
英文名称 : Design and metrological characteristics of electronic digital-indicator gauges
内容简介 : 本文件规定了电子数显指示表最重要的设计和计量特性。
英文名称 : Design and metrological characteristics of height gauges
内容简介 : 本文件规定了高度卡尺(带有机械或数字显示)最重要的设计和计量特性。
英文名称 : Geometrical product specifications(GPS)—Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment—Part 2:Guidance for the estimation of uncertainty in GPS measurement,in calibration of measuring equipment and in product verification
内容简介 : 本文件提出的《测量不确定度表示指南》(以下简称GUM)概念实施指南,适用于工业界对GPS领域内的测量标准和测量设备的校准以及工件GPS特性的测量。其目的是提供完成不确定度报告所需的全部信息,并为测得结果及其不确定度的比较(顾客与供方之间的关系)提供依据。 本文件的目的是支撑ISO 14253-1。本文件与ISO 14253-1均有利于公司内部所有技术职能部门对GPS规范(即工件特性的公差和...
英文名称 : Geometrical product specifications (GPS)—Inspection by measurement of workpieses and measuring equipment—Part 3:Guidelines for achieving agreements on measurement uncertainty statements
内容简介 : 本文件提供了有关测量不确定度表述达成共识的方法指南和相应的程序,帮助顾客、供方解决在依据ISO 14253-1进行合格判定时因不确定度表述带来的争议问题,从而避免耗时且成本高昂的争论。
英文名称 : Geometrical product specifications (GPS)—Extraction
内容简介 : 本文件界定了GPS提取的基本术语,规定了GPS提取中使用的基本操作框架及采样和重构的概念,同时规定了几种基本几何体的主要采样方案。