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英文名称 : Optics and photonics—Optical coatings—Part 1:Vocabulary
内容简介 : 本文件界定了光学薄膜相关术语和定义。术语分为3类:基本术语和定义、功能性薄膜的术语和定义、常见的薄膜缺陷术语和定义。 本文件适用于在光学元器件及基底表面镀制的光学薄膜。 本文件不适用于眼科光学(眼镜)方面的光学薄膜。
英文名称 : Optics and photonics—Optical materials and components—Characterization of optical materials used in the infrared spectral range from 0.78 μm to 25 μm
内容简介 : 本文件规定了在0.78 μm~25 μm红外光谱范围内使用的光学材料的命名、特性以及表征该类材料的性能参数,描述了这些性能参数相应的测试方法。 本文件适用于无源光学元件所用红外材料的表征与测试。也能用于其他光谱波段(如微波、可见光或紫外波段)的表征与测试。
英文名称 : Laboratory testing and calibration methods for soft X-ray to extremeultraviolet band space imaging instrument
内容简介 : 本文件描述了工作在0.1 nm~121 nm波段的软X射线-极紫外空间成像仪器的实验室检测与定标试验项目及试验方法,规定了试验环境和试验设备的要求。 本文件适用于软X射线-极紫外光谱范围内的空间成像仪器的实验室检测与定标。
英文名称 : Optics and photonics—Optical coatings—Part 7:Minimum requirements for neutral beam splitter coatings
内容简介 : 本文件规定了中性分束膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的中性分束膜。本文件既能满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也能使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。
英文名称 : Optics and photonics—Optical coatings—Part 6:Minimum requirements for reflecting coatings
内容简介 : 本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。
英文名称 : Optics and photonics—Optical coatings—Part 5:Minimum requirements for antireflecting coatings
内容简介 : 本文件规定了减反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的减反射膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。
英文名称 : Optics and photonics—Environmental test methods—Part 2:Cold, heat and humidity
内容简介 : 本文件描述了光学和光子学低温、高温、湿热试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的低温、高温与湿热试验。
英文名称 : Optics and photonics—Environmental test methods—Part 17:Combined contamination, solar radiation
内容简介 : 本文件描述了光学和光子学污染、太阳辐射综合试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的污染、太阳辐射综合试验。
英文名称 : Optical and photonics—Environmental test methods—Part 14:Dew,hoarfrost,ice
内容简介 : 本文件描述了光学和光子学露、霜、冰试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的露、霜、冰试验。
英文名称 : Optics and photonics—Environmental test methods—Part 12:Contamination
内容简介 : 本文件描述了光学和光子学污染试验的环境试验方法。 注: 本文件中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质1)(以下简称“试剂”)同光学和光子学仪器的接触。 本文件适用于有关光学和光子学仪器,包括来自其他领域(如机械、化学和电子设备)的污染试验。 本文件不适用于作为正常的生产控制。