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[国家标准] GB/T 18904.1-2002：半导体器件 第12-1部分：光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
现行
英文名称 : Semiconductor devices—Part 12-1:Optoelectronic devices—Blank detail specification for light emitting/infrared emitting diodes with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems
内容简介 :
[国家标准] GB/T 17444-2013：红外焦平面阵列参数测试方法
现行
英文名称 : Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
内容简介 : 本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
[国家标准] GB/T 17444-1998：红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
被代替
英文名称 : The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
内容简介 :
[国家标准] GB/T 13584-2011：红外探测器参数测试方法
现行
英文名称 : Measuring methods for paramaters of infrared detectors
内容简介 : 本标准规定了红外探测器（以下简称探测器）的参数测试方法及其检测设备和仪器的要求。 本标准适用于各类单元红外探测器的参数测试，也适用于多元红外探测器相应的参数测试。
[国家标准] GB/T 13584-1992：红外探测器参数测试方法
被代替
英文名称 : Measuring methods for parameters of infrared detectors
内容简介 :
[国家标准] GB/T 13583-1992：红外探测器外形尺寸系列
现行
英文名称 : Outline dimension series of infrared detectors
内容简介 :
