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[国家标准] GB/T 36613-2018：发光二极管芯片点测方法
现行
英文名称 : Probe test method for light emitting diode chips
内容简介 : 本标准规定了发光二极管芯片(以下简称“芯片”)光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测条件和点测方法。本标准适用于批量生产的可见光发光二极管正装芯片和薄膜芯片的检测方法。紫外光、红外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。
[国家标准] GB/T 36362-2018：LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计(指数分布)
现行
英文名称 : Point estimation and interval estimation for reliability testing of LED applied products(exponential distribution)
内容简介 : 本标准规定了LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计的数据获取和处理方法。本标准适用于服从指数分布或近似服从指数分布的LED应用产品的可靠性试验的实验室试验数据处理和现场使用数据处理。
[国家标准] GB/T 36361-2018：LED加速寿命试验方法
现行
英文名称 : Accelerated life test method for LED
内容简介 : 本标准规定了通过恒定温度应力加速寿命试验得到LED光通维持寿命的试验方法。本标准适用于光通量慢退化失效模式的可见光LED。
[国家标准] GB/T 15529-1995：半导体发光数码管空白详细规范
现行
英文名称 : Blank detail specification for LED numeric displays
内容简介 :
