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本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像,获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。
本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒,具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。
标准编号:GB/T 45114-2024
标准名称:纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
英文名称:Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
标准状态:即将实施
发布日期:2024-12-31
实施日期:2025-07-01
出版语种:中文简体
起草单位:中国计量科学研究院、测试狗(成都)实验检测有限公司、河南科技大学、中铝科学技术研究院有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、北京智芯微电子科技有限公司、山东省计量科学研究院、清华大学深圳国际研究生院、上海交通大学、中南大学、西南科技大学、南京市计量监督检测院
发布部门:国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号:07.180
中标分类号:G30
代替标准:
被代替标准: