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本文件规定了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下集成电路(IC)抗扰度的测量方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。本方法确保抗扰度测量的高度可重复性和相关性。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。
标准编号：GB/T 42968.4-2024
标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4:Direct RF power injection method
标准状态：现行
发布日期：2024-12-31
实施日期：2024-12-31
出版语种：中文简体
起草单位：中国电子技术标准化研究院、南京容测检测技术有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、上海市计量测试技术研究院、苏州菲利波电磁技术有限公司、安徽省计量科学研究院、中国信息通信研究院、深圳市铨兴科技有限公司、重庆邮电大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、东莞职业技术学院、上海精密计量测试研究所
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：31.200
中标分类号：L56
代替标准：
被代替标准：
