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本文件描述了窗口薄膜的鼓胀测试方法。试样由微米/纳米结构薄膜材料制备，包括金属、陶瓷和聚合物等薄膜，用于微机电系统（MEMS）、微机械等领域。薄膜厚度范围为0.1 μm～10 μm。正方形和长方形窗口宽度范围0.5 mm～4 mm，圆形窗口直径范围0.5 mm～4 mm。
本文件适用于常温环境条件下，对窗口薄膜试样施加均匀压力进行弹性模量和残余应力测试。
标准编号：GB/T 44919-2024
标准名称：微机电系统(MEMS)技术 薄膜力学性能的鼓胀试验方法
英文名称：Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
标准状态：现行
发布日期：2024-11-28
实施日期：2024-11-28
出版语种：中文简体
起草单位：中国科学院微电子研究所、中机生产力促进中心有限公司、苏州容启传感器科技有限公司、武汉大学、北京大学、昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司、苏州晶方半导体科技股份有限公司、苏州慧闻纳米科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市美思先端电子有限公司、东南大学、芯联集成电路制造股份有限公司、中关村光电产业协会、华东电子工程研究所(中国电子科技集团公司第三十八研究所)、上海交通大学、明石创新(烟台)微纳传感技术研究院有限公司、武汉高德红外股份有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：31.080.99
中标分类号：L59
代替标准：
被代替标准：
