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标准简介
适用范围：
本文件规定了12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺（以下简称划片工艺）的一般要求、详细要求和评价要求。
注： 1 in=2.54 cm。
本文件适用于12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺。
标准编号：GB/T 44796-2024
标准名称：集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求
英文名称：Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-sawing process and evaluation
标准状态：即将实施
发布日期：2024-10-26
实施日期：2025-05-01
出版语种：中文简体
起草单位：中国电子科技集团公司第五十八研究所、神州龙芯智能科技有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：31.200
中标分类号：L55
代替标准：
被代替标准：
