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本文件规定了待测颗粒相对于成像设备的光轴速度为零时，用于测量颗粒粒度分布的图像分析方法。良好分散待测颗粒并固定在测试仪器的物面上。通过移动载物台或摄像头，仪器的视场可以实现对物面上颗粒图像的采集，同时又不会引起颗粒图像的运动模糊。随后对图像进行分析。
本方法适用于通过光学或电子检测系统获取的数字图像分析。本方法并不涉及获取图像的方法，尽管检测参数设置与校准对颗粒粒度测定的准确度影响很大。本方法仅涉及通过完整像素计数法分析图像的方法。
粒度分布的类型（基于数量或是体积）和分布宽度对为确保在指定的置信区间内取得预期的测试准确度所测定的颗粒数量，具有很大影响。实例见附录A。
为使测量的颗粒数足够多，从而实现所要求的测量精密度，可以采用自动分析技术。
本文件不涉及样品制备。为确保试验结果的准确度和精密度，待测颗粒的采样、分散和代表性取样都是操作过程中的至关重要环节。
注：关于采样和样品制备的细节详见ISO 14887和ISO 14488。
标准编号：GB/T 21649.1-2024
标准名称：粒度分析 图像分析法 第1部分：静态图像分析法
英文名称：Particle size analysis—Image analysis methods—Part 1:Static image analysis methods
标准状态：即将实施
发布日期：2024-09-29
实施日期：2025-04-01
出版语种：中文简体
起草单位：北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、弗尔德(上海)仪器设备有限公司、深圳市八六三新材料技术有限责任公司、雁栖湖基础制造技术研究院(北京)有限公司、长兴隆盛钙业股份有限公司、深圳市粤能环保科技有限公司、浙江中平粉末冶金有限公司、芯体素(杭州)科技发展有限公司、北京市科学技术研究院城市安全与环境科学研究所、中国计量科学研究院、国家纳米科学中心、仪思奇(北京)科技发展有限公司、合肥鸿蒙标准技术研究院有限公司、中国计量大学、山东理工大学、北京粉体技术协会
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：19.120
中标分类号：A28
代替标准：GB/T 21649.1-2008
被代替标准：
