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本文件描述了开展宇航用半导体器件（以下简称“器件”）在轨单粒子翻转率预计的方法，包括原理、流程、空间带电粒子LET 谱和质子能谱计算、辐照试验数据处理分析和单粒子翻转率预计等。本文件适用于空间自然辐射环境中的质子和重离子引发器件单粒子翻转率的预计。单粒子功能中断等其他类型单粒子事件率预计参考使用。本文件不适用于高能电子引发的单粒子翻转率的预计。
读者对象：标准编号：GB/T 44181-2024
标准名称：空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法
英文名称：Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconduct-or devices for space applications
标准状态：现行
发布日期：2024-07-24
实施日期：2024-07-24
出版语种：中文简体
起草单位：中国空间技术研究院、国防科技大学、哈尔滨工业大学、北京微电子技术研究所、中国科学院国家空间科学中心
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：49.020
中标分类号：V06
代替标准：
被代替标准：
