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本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。
标准编号：GB/T 43883-2024
标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal
标准状态：现行
发布日期：2024-04-25
实施日期：2024-11-01
出版语种：中文简体
起草单位：中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、牛津仪器科技(上海)有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：71.040.99
中标分类号：N33
代替标准：
被代替标准：
