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本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。
本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。
本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。
标准编号：GB/T 43889-2024
标准名称：微束分析 电子探针显微分析仪(EPMA) 质量保证程序实施导则
英文名称：Microbeam analysis—Electron probe microanalyser(EPMA)—Guidelines for performing quality assurance procedures
标准状态：现行
发布日期：2024-04-25
实施日期：2024-11-01
出版语种：中文简体
起草单位：中国科学院地质与地球物理研究所、核工业北京地质研究院、中国地质科学院矿产资源研究所
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：71.040.50
中标分类号：N53
代替标准：
被代替标准：
