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本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原理、设备、器件制备及测量过程、计算方法、不确定度的分析与计算，以及测量报告等。
本文件适用于长度和宽度均大于100 μm的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率（<104 cm2/Vs）和方块电阻的测量。
标准编号：GB/T 43682-2024
标准名称：纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法
英文名称：Nanotechnology—Measurement methods for carrier mobility and sheet resistance of graphene films of sub-nanometer thickness
标准状态：现行
发布日期：2024-03-15
实施日期：2024-07-01
出版语种：中文简体
起草单位：泰州巨纳新能源有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、上海巨纳科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、泰州飞荣达新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、南京大学、电子科技大学(深圳)高等研究院、清华大学、江南大学、贵州金特磨削科技开发有限公司、福建翔丰华新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯检测认证有限公司、欣旺达电子股份有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：71.040.50
中标分类号：A42
代替标准：
被代替标准：
