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标准简介
适用范围：
本文件规定了塑封电子元器件进行声学显微镜检查的程序。本文件提供了一种使用声学显微镜对塑料封装进行缺陷（分层、裂纹、模塑料空洞等）检查的方法，本方法具有可重复性，是非破坏性试验。
读者对象：标准编号：GB/T 4937.35-2024
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35:Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
标准状态：现行
发布日期：2024-03-15
实施日期：2024-07-01
出版语种：中文简体
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：31.080.01
中标分类号：L40
代替标准：
被代替标准：
