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标准简介
适用范围：
本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
读者对象：标准编号：GB/T 43088-2023
标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
标准状态：现行
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-04-01
出版语种：中文简体
起草单位：首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：71.040.50
中标分类号：G04
代替标准：
被代替标准：
