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标准编号： GB/T 20724-2021
标准名称： 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
标准简介
适用范围：
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
读者对象：标准编号：GB/T 20724-2021
标准名称：微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
英文名称：Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
标准状态：即将实施
发布日期：2021-12-31
实施日期：2022-07-01
出版语种：中文简体
起草单位：北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准ICS号：71.040.99
中标分类号：N53
代替标准：GB/T 20724-2006
被代替标准：
