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标准简介
适用范围：
本标准规定了可用于定量描述圆形半导体晶片表面缺陷的网格图形。本标准适用于标称直径100 mm～200 mm的硅片，也适用于其他半导体材料晶片。
读者对象：标准编号：GB/T 16595-2019
标准名称：晶片通用网格规范
英文名称：Specification for a universal wafer grid
标准状态：现行
发布日期：2019-03-25
实施日期：2020-02-01
出版语种：中文简体
起草单位：浙江海纳半导体有限公司、有色金属技术经济研究院、有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心、上海合晶硅材料有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准ICS号：29.045
中标分类号：H80
代替标准：GB/T 16595-1996
被代替标准：
