重要提示：
1、按照中国质量标准出版传媒有限公司（中国标准出版社）要求，自2022年5月9日起，加强电子版标准版权防护措施，标准电子书在购买并下载至客户电脑后，需安装FileOpen插件方可打开查阅（在尝试打开时将自动提示安装），同时与下载电脑绑定，并仅可在此一台电脑上使用，复制到其他设备上均无法打开。
2、标准电子书下单购买后，需等待数分钟方可下载，下载权限10天有效，请尽快下载使用。
3、电子商品不支持退换货，请仔细阅读以上提示后再行购买。
标准简介
适用范围：
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
标准编号：YS/T 1160-2016
标准名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
英文名称：Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
标准状态：现行
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
出版语种：中文简体
起草单位：昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
标准ICS号：29.045
中标分类号：H12
代替标准：
被代替标准：
