重要提示：
1、按照中国质量标准出版传媒有限公司（中国标准出版社）要求，自2022年5月9日起，加强电子版标准版权防护措施，标准电子书在购买并下载至客户电脑后，需安装FileOpen插件方可打开查阅（在尝试打开时将自动提示安装），同时与下载电脑绑定，并仅可在此一台电脑上使用，复制到其他设备上均无法打开。
2、标准电子书下单购买后，需等待数分钟方可下载，下载权限10天有效，请尽快下载使用。
3、电子商品不支持退换货，请仔细阅读以上提示后再行购买。
标准简介
适用范围：
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS)法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。
本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9%的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1（以质量分数计)。
标准编号：GB/T 37254-2018
标准名称：高纯碳化硅 微量元素的测定
英文名称：High purity silicon carbide—Determination of trace elements
标准状态：即将实施
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-09-01
出版语种：中文简体
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所、宁波伏尔肯机械密封件制造有限公司
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准ICS号：71.040.50
中标分类号：A43
代替标准：
被代替标准：
